產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
XED4800抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種先進(jìn)的測量介質(zhì)和損耗（tg&)和電容容量（Cx)的使用，用于工頻高壓下，測試各種絕緣材料，絕緣套管，電力電纜，電容器，互感器，變壓器等高壓·設(shè)備的介質(zhì)損耗。XED4800抗干擾介質(zhì)損耗測試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)， 測試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)
詳情介紹：
一、XED4800抗干擾介質(zhì)損耗測試儀概況
1、環(huán)境：-5℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長時(shí)間日照）
2、相對濕度：30%～70%
3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±Hz
4、外形尺寸：長*寬*高=435mm*300mm*300mm
5、重量：20kg
6、輸出功率：1KVA
7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8、測試方法：正接法、反接法、外接法
9、測量范圍：
內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF
外接試驗(yàn)電壓：≤10μF
10、基本測量誤差：
介質(zhì)損耗（tgδ）：1.5%±0.09%
電容容量（Cx）：1.0%±2PF
XED4800抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種先進(jìn)的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。
XED4800抗干擾介質(zhì)損耗測試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)， 測試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn);另外,本儀器針對電容式電壓互感器(CVT)試驗(yàn)困難的特點(diǎn),增設(shè)了外接法測試,外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器,使得測試非常簡單可靠,是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。
二、XED4800抗干擾介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標(biāo)1、環(huán)境：-5℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長時(shí)間日照）
2、相對濕度：30%～70%
3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±Hz
4、外形尺寸：長*寬*高=435mm*300mm*300mm
5、重量：20kg
6、輸出功率：1KVA
7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8、測試方法：正接法、反接法、外接法
9、測量范圍：
內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF
外接試驗(yàn)電壓：≤10μF
10、基本測量誤差：
介質(zhì)損耗（tgδ）：1.5%±0.09%
電容容量（Cx）：1.0%±2PF